展示会出展ブースレポート [SEMICON Japan 2013] 高精度超音波顕微鏡「C-SAM Series」 – 日本バーンズ株式会社 2013年12月5日 FacebookTwitterPinterest 日本バーンズ株式会社はSEMICON Japan 2013にて、高精度超音波顕微鏡「C-SAM Series」を出展。 超音波を用いた非破壊検査が可能な高精度顕微鏡を紹介。
